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現(xiàn)象:同一測試點反復(fù)測試失敗,更換 PCB 后仍在相同位置報錯。一測就報 N 個開路點,有的板子重測又好了。

常見根因(按概率和可復(fù)現(xiàn)度排序)

板面問題

  • 測試點太小/被阻焊蓋邊、邊緣不圓整
  • 表面處理易氧化(尤其 OSP 放久了)、助焊劑/灰塵污染
  • 過孔當(dāng)測試點未塞油,針頭“掉孔”接觸不穩(wěn)
  • 板子翹曲/扭曲,壓合后中部“浮針”

治具/探針問題

  • 探針磨損/彈簧疲勞/行程不夠,接觸力不足
  • 針頭形狀與表面不匹配(OSP 用圓錐針→刺不破;金面用爪針→滑刮)
  • 對位精度差(定位孔、導(dǎo)向柱磨損,針板孔有毛刺,真空泄漏)
  • 支撐柱/托塊布局不合理(大 BGA、邊緣薄區(qū)沒有托?。?/li>

測試方法/電氣設(shè)置

  • 接觸檢查(Contact Check)閾值不合理、激勵/守衛(wèi)設(shè)置偏小導(dǎo)致“假開路”
  • 量測走線/線纜接觸電阻大、夾具串?dāng)_/漏電

環(huán)境與流程

清潔/更換周期沒管控,針頭與板面都“越測越臟”

快速定位(10 分鐘內(nèi)的排查路徑)

重測對比:同一塊板換治具/同治具換板 → 判斷“治具側(cè)”還是“板側(cè)”。

接觸地圖:開 Contact Check 或?qū)⊕呙?,只測接觸不跑功能,看失敗點是否集中在區(qū)域(多為翹曲/支撐)還是集中在材質(zhì)/表面(多為 OSP/污染/針頭形狀)。

機(jī)械對位/平整度

  • 看定位銷是否松,導(dǎo)向柱是否有磨痕;
  • 壓敏紙/壓力膜或在板背涂少量記號筆壓一次,查看接觸印跡是否均勻;
  • 目測/塞尺查中部是否浮起。

針頭狀態(tài):隨機(jī)抽 5–10 枚故障點位的針頭,放大鏡看是否卷邊、變鈍、沾污,輕壓手感是否順滑回彈。

板面狀態(tài):觀察 TP 是否被綠油包邊、是否有助焊劑/氧化斑,過孔點位是否掉孔。

電氣設(shè)定:僅對失敗點加大激勵電流/更換守衛(wèi)方式,若通過→多為接觸邊界問題。

立刻可執(zhí)行的“救火措施”(當(dāng)班就能落地)

避免將測試點設(shè)計在高元件(如連接器、電感、BGA 周邊的立式電容)下方或陰影區(qū),防止探針被元件阻擋。

清潔

  • 針頭用無纖維酒精棉/橡皮清潔條快速擦拭一輪;
  • 可疑板面酒精/離子水點清(避開高風(fēng)險器件),重測。

更換/調(diào)整探針

  • 對高失敗率點位,換新針或換成四爪/八爪(針對 OSP/氧化),金面光滑易滑移的換刃形;
  • 將治具壓合行程調(diào)到針滿行程的 2/3–3/4,保證接觸力。

增強(qiáng)支撐

  • 臨時加磁吸/3D 打印/膠墊托塊在中部與大 BGA 下方;
  • 對高件區(qū)域用臺階壓板或加彈性壓條。

對位校正

  • 檢查定位銷是否松動,清潔導(dǎo)向柱;
  • 真空治具做泄漏檢查(聽音/貼膠帶法),保證吸力充足。

程序策略

適度提高接觸檢查的測試電流/電壓或改變守衛(wèi)接法,降低“假開路”。

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